NI周2004:两个模块双采样率，内存深度

TX -奥斯丁国家仪器NI在2004年NI Week上发布了两款200 MS/s的模块化仪器，极大地扩展了NI的混合信号测量能力。基于该公司的同步和存储核心(SMC)，这些模块将NI数字化仪和任意波形发生器产品系列的可用采样率和存储深度提高了一倍。据报道，当与NI的精密直流、射频和高速数字PXI仪器结合使用时，这些新模块非常适合消费电子、半导体、军事/航空电子设备和科学研究中的各种应用。

Baxall公司高级测试工程师Deepak Murji说:“由于生产吞吐量的增加和精度要求的提高，我们选择了美国国家仪器公司的模块化仪器，以及MicroLEX Systems的VideoMaster软件，用于我们的相机测试和校准。基于我们广泛的评估和与传统测试方法的比较，我们可以获得超过25%的高吞吐量，并以更高的精度校准我们的产品。”

PXI-5124 12位双通道数字化仪和PXI-5422 16位任意波形发生器使用最新的商用半导体，通过将采样率提高到200 MS/s和每通道内存深度提高到512 MB来扩展SMC架构。新模块通过提供精度、灵活性和混合信号I/O的紧密集成，将NI模块化仪器的优势带到更广泛的应用领域。PXI-5124数字化仪提供75 dBc无杂散动态范围(SFDR)和150 MHz带宽，而PXI-5422任意波形发生器提供小于6%的脉冲像差和1.8纳秒上升时间。

设计和测试工程师可以使用新的200 MS/s数字化仪和任意波形发生器，使用NI的新SignalExpress交互式测量软件，以及LabView 7.1和NI的TestStand测试管理软件，在产品开发流程的任何地方快速构建刺激/响应系统。通过这些软件包中的Express技术，工程师可以通过很少的编程来交互式地配置数字化仪和任意波形发生器，从而提供更快的系统设置。工程师可以定制他们的测量系统，拥有400多种测量和分析功能，包括光谱测量和模拟和数字调制。在LabView 7.1中可用。

所有NI的混合信号模块化仪器都建立在通用SMC架构之上，因此它们与其他基于SMC的仪器紧密同步，例如该公司的PXI-6552 100 MHz数字波形发生器/分析仪。由于模块之间的抖动rms小于20皮秒，SMC的同步使得高性能混合信号或高通道计数测量系统成为可能。此外，这两个新模块都可以通过前面板连接器或PXI触发器总线导入外部样本时钟、参考时钟和触发器。

总的来说，NI的模块化仪器结合了高性能硬件、灵活的软件和创新的定时和同步技术，用于测试和设计应用。NI模块化仪表包括:

• 高分辨率数字化仪(8至14位，高达200 MS/s);

• 信号发生器(最高16位，200 MS/s);

• 数字波形发生器/分析仪(最高100 MHz);

• 数字万用表(最多6

• 射频矢量信号发生器和分析仪(最高2.7 GHz)

• 动态信号分析仪(最高24位，204.8 kS/s);而且

• 切换(多路复用器、矩阵和通用)。

控制工程每日新闻台
吉姆·蒙塔古，新闻编辑
Jmontague@reedbusiness.com

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