基思利与纽约州立大学奥尔巴尼分校的纳米技术中心合作

奥尔巴尼,纽约,基思利仪器公司正与纽约州立大学奥尔巴尼分校(SUNY)的奥尔巴尼纳米技术中心合作，共享研究信息，并合作促进对纳米技术和光电子技术的理解。基思礼还为奥尔巴尼纳米技术公司提供了半导体器件表征系统，该系统可以对纳米尺寸的器件进行测量。

“这种测试设备的增加将对奥尔巴尼纳米技术学院正在进行的几个研究项目产生重大影响，包括基于碳纳米管的电子设备的开发;分子电子学和自旋电子学;以及基于砷化镓和基于氮化镓的光电设备的开发，如光电探测器、发光二极管和垂直腔面发射和边缘发射激光器，”纽约州立大学奥尔巴尼纳米科学与纳米工程学院的助理教授和科学家Fatemeh (Shadi) Shahedipour-Sandvik博士说。

Keithley的商业管理副总裁Mark Hoersten补充说，“Keithley希望从我们与Albany NanoTech的信息交流中学到很多东西，并将这些知识应用到我们未来为纳米技术行业创造的产品中。”我们行业在解决纳米级精确连接和测量复杂性方面的集体能力，将在决定这些令人兴奋的创新如何快速进入全面生产方面发挥重要作用。我们在与奥尔巴尼纳米技术公司和该领域的其他领导者合作中学到的东西，是了解客户需求的至关重要的窗口。”

基思利补充说，电子纳米器件非常小，通常会产生微小的信号，精确测量这些信号需要非常灵敏的仪器。奥尔巴尼纳米技术中心将使用基思利4200-SCS型半导体表征系统的设备，提供亚飞安培(10-15)电流测量分辨率。4200-SCS型被用于世界各地的纳米技术研究机构，因为它可以进行非常敏感的测量，具有开放式架构，并且易于使用。这使得它在许多应用中都很有用，例如碳纳米管电子学的电流-电压表征，分子电子学，光电子学和材料研究。

控制工程每日新闻台
吉姆·蒙塔古，新闻编辑
jmontague@reedbusiness.com

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