基思礼提供免费的半导体可靠性测试教程CD

克利夫兰,哦,基思利仪器公司为半导体测试工程师发布了关于可靠性测试的交互式教程CD。“理解测量:基本可靠性测试技术”提供了有关半导体器件的压力测量测试，新的测量技术，以及如何提高测试吞吐量和保持数据完整性的信息。这张光碟是基思礼测试与测量知识光碟系列的第二张，可于www.keithley.com/pr/005.html．

CD包含三个网络研讨会，详细讨论了各种测试问题，包括:

• 了解半导体器件的可靠性测试;

• 提高半导体器件可靠性的新测量技术而且

• 如何提高吞吐量和数据完整性、可靠性问题以及栅极氧化垢的测试挑战。

CD上的其他内容包括:

• 教程白皮书涵盖材料测试和电迁移测试相关问题。

• 几种产品应用说明描述了进行广泛半导体器件测试的方法，包括电荷泵浦、氧化物可靠性、电阻率、霍尔电压测量、栅极介质电容电压表征和高电阻测量。

• 有用的资源包括术语表，为您的测试应用选择最佳半导体可靠性工具的指南，以及相关的网络链接。

控制工程每日新闻台
吉姆·蒙塔古，新闻编辑
jmontague@reedbusiness.com

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