Sick的EventCam

Sick的EventCam是专门为检测和分析工业过程中的零星错误而设计的。

通过生病的美国 2019年12月1日

生病的EventCam是专门为检测和分析工业过程中的零星错误而设计的。它可以非常灵活地集成到固定和移动应用程序中,支持网络,并提供超高图像质量的单帧和视频序列,以便进行详细的错误分析。它是附于nIP65外壳由铸铝制成而且提供大量的安装选项,允许相机安装在不同的位置,这些位置可以改变很快EventCam已经专门为快速和有针对性的错误分析而设计。连接的自动化系统或传感器通过相机本身的触发输入报告在这个过程中发生了错误。的EventCam在调试或优化它们时也很有用。

生病的

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