半导体测试系统用数字模式仪和编辑器

美国国家仪器公司(Nasdaq: NATI)、NI PXIe-6570数字模式仪器和NI数字模式编辑器是为射频集成电路(rfic)、微机电系统(MEMS)设备和混合信号集成电路(ic)的制造商设计的，这些设备来自传统半导体自动化测试设备(ATE)的封闭架构。NI PXIe-6570数字模式仪器旨在为无线设备供应链和物联网(IoT)设备中的ic提供所需的测试能力。它具有每秒100 MVector的模式执行，具有独立的源和捕获引擎以及电压/电流参数函数，在单个子系统中多达256个同步数字引脚。

用户可以利用PXI和半导体测试系统(STS)的开放性，根据需要添加尽可能多或尽可能少的器件，以满足测试配置中所需的器件引脚和站点数。数字模式编辑器软件集成了设备引脚图、规格和模式的编辑环境，以更快地制定测试计划;内置工具如多站点和多仪器模式从开发扩展到生产。

美国国家仪器公司

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