用图形化的系统设计软件，灵活的测试设备创建物联网

10月8日，美国国家仪器公司(NI)学术项目总监戴夫·威尔逊在2014年芝加哥NI Days的开幕演讲中指出，下一个大的工业趋势是物联网。约有500名工程师参加了此次活动。

“物联网将使一切变得更好、更快，无论是消费设备的自动化测试;工业系统的设计、原型设计、部署和监控;或者下一代无线通信的发展，”威尔逊说。

当罗伯特·梅特卡夫发明了以太网他指出，网络将数据的价值增加了两倍。他说，随着物联网工程的发展，它将改变事物的沟通方式，并影响工业的各个方面，从消费者方面、工业方面到数据流。在消费者方面，将会有更多可穿戴、更智能、更快的手机;在工业方面，智能工厂和电网、智能机械控制将标志着工业的下一个关键转变。

然而，物联网的发展也面临着一些问题和挑战。随着物联网对工业的关注，威尔逊表示，我们需要问:

-这些设备实际运行起来有多好?

我们将如何扩展4G之外的无线带宽?

-物联网如何应用于传感器和测试技术?

摩尔定律不仅仅局限于数字领域。模拟设备也正在向物联网过渡。许多传统的测试方法受到了挑战。

在主题演讲中展示了几种NI产品，以演示基于物联网的控制和测试设计仪器。NI的LabView软件是一个图形系统设计平台，据说95%的财富500强公司和美国前20名5G研究人员都在使用。该软件有900个图形功能和800个基于文本的例程。它利用浮点门阵列(FPGA)处理器、数据仪表板和嵌入式HMI功能，允许浏览器和苹果iPad等移动设备之间的数据同步。

在主题演讲中展示的另一个NI产品是NI PXI平台，这是一个基于pc的测试、测量和控制系统。NI技术总监Richard McDonnell表示，与传统的大型铁ATE测试设备相比，PXI将测试时间缩短了30%，测试成本降低了几个数量级。

McDonnell表示:“对于物联网，拥有一个有效的测试系统非常重要，它可以集成不同格式的数据，因为当测试成本几乎与制造成本一样昂贵时，它是不划算的。”

- Joy Chang是CFE Media数字项目经理。jchang@cfemedia.com．

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