电容式加速度计和LCC/JCC芯片

Silicon Designs, Inc.宣布扩展其工业级MEMS电容式加速度计芯片，包括六个新的高性能和低成本模型系列，以及增强的应用适用性。

MEMS电容式加速度计模块和LCC/JCC芯片范围从±2 g到±400 g，适用于零到中频仪器要求。模块设计将单轴模型或三个正交块安装模型结合在环氧接缝密封阳极氧化铝外壳内。专有制造技术的使用允许机载电压调节和内部电压参考，使机组对温度和电压变化相对不敏感，同时消除了外部电源放大和调节的需要。精心规范的制造过程确保每个传感器几乎完全相同，允许用户更换模块，很少或没有修改。

MEMS电容式加速度计技术为关键的汽车测试需求提供了必要的稳定性和性能可靠性，包括道路负载数据采集(RLDA)、碰撞雪橇测试、车辆和部件耐久性测试、平顺性和操控性以及NVH测试。

硅的设计

www.silicondesigns.com

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