泰克的采样示波器打破了测量障碍

比佛顿,或者,美国泰克公司。推出了模块化采样示波器TDS8200及其82A04相位参考模块，使设计工程师能够表征和验证产品性能。

新的示波器可以配置为提供70 GHz的带宽，据报道，它是唯一的单端和差分时钟恢复系统，覆盖50mbps和12.6 Gbps之间的所有当前和新兴串行数据标准。TDS8200还提供了泰克公司报告的在这些数据速率下的200 fs RMS的业界最佳系统抖动。由于TDS8200可以实现更严格公差的设计，因此可以降低成本并提高组件性能。

泰克解释说，从历史上看，用嵌入式时钟表征串行数据信号一直是一个重大挑战。诸如3.125 Gbps的XAUI和6.25 Gbps的2x XAUI等电信号标准需要能够以超快数据速率获取这些复杂信号并用于精确表征的仪器。抖动预算有限，时间裕度有限的设计需要具有最佳信号保真度的测试设备，并能够提供准确和可重复的结果。为了处理差分信号，测试设备必须足够灵活，能够跨多个数据速率提供真正的差分采集和时钟恢复。该公司表示，其新型采样示波器满足了这些需求。

泰克光电产品部总经理约翰•塔格特(John Taggart)说:“数字设计师正在不断挑战测试和测量设备的极限。”TDS8200和82A04具有无与伦比的灵活性，是2至12.5 Gbps串行数据信号采集和表征的飞跃。对于最快速和最苛刻的应用，客户可以使用TDS8200系列测量系统获得最准确的测试结果。

泰克补充说，TDS8200通过提供200 fs RMS的系统抖动来改进早期型号。这种改进的测量系统保真度可以消除错误的测试失败，并能够更准确地表征设计公差，从而提高组件性能并降低成本。在低抖动时基相位参考模式下进行测量时，TDS8200的数据采集速度比竞争解决方案快25倍。

使用Tektronix的独家采集模式FrameScan, TDS8200允许测量随机和确定性抖动。这些新的示波器功能可帮助工程师对高速，低功耗差分信号进行准确，可重复的合规性测试，并具有触发嵌入式时钟的能力，从而促进新产品的创建。

安森美半导体高级运营副总裁兼首席制造官William George表示:“随着我们设计速度的提高，与市场上仪器的1 ps RMS系统抖动相关的闭眼问题正在成为一个重大问题。”TDS8200与82A04相位参考模块是唯一的测量系统，我们的& 200fs RMS系统抖动和足够的带宽，以准确地表征我们新的6 Gbps设计。这种能力使我们能够领先于竞争对手，更快地将产品推向市场。TDS8200是测试新兴串行数据标准的“黄金参考”。

此外，凭借80A05电子时钟恢复模块，TSD8200还为所有当前和新兴的50 Mbps至12.6 Gbps的串行数据标准提供了唯一的差分时钟恢复解决方案。泰克补充说，它也是业界唯一的3-6 Gbps差分和单端信号时钟恢复解决方案。该领域的新兴标准包括XAUI、2x XAUI和SATA2。结合80E0x电信号采集模块，测量系统可为差分和单端信号提供完整的电信号分析和时钟恢复解决方案。

除了标准速率支持外，用户还可以指定自定义比特率来测试以新兴或非标准速率运行的设备、模块和系统，从而使用户能够在数据范围内工作。宽时钟恢复范围和支持用户指定的比特率，都在一个模块中，为测试计算机和通信信号速率和标准提供了完整的时钟恢复解决方案。

控制工程日报新闻台
吉姆·蒙塔古，新闻编辑
jmontague@reedbusiness.com

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