基斯利推出了新的测试系统卡

克利夫兰,哦,基思利仪器有限公司为其4500-MTS多通道I-V测试系统推出了两种新的多通道，源测量测试卡，扩展了工作范围。每个型号4510-和型号4511-QIVC (Quad I-V卡)在型号4500-MTS PCI主机的九个插槽中提供四个源测量通道，允许多达36个I-V测量通道。Keithley报告说，Model 4500-MTS及其QIVCs可以在相当的机架和堆叠系统的一小部分时间和一小部分成本内进行这些测量。

型号4500-MTS用于在多头(multi-DUT)生产测试环境中进行自动化测试，例如涉及应力测量，寿命测试和一般设备特性的测试。典型应用采用其快速源测量功能来生成I-V曲线;测量被测器件的电阻，如mems和电路保护二极管;以及其他被动和主动器件的特点。该系统还可用作多通道电源，用于在器件(如射频集成电路和光子集成电路)的功能测试期间测量电压或电流。来自Keithley和其他供应商的各种仪器可以与4500-MTS接口，以补充其I-V和电源功能。

Keithley报告说，Model 4500-MTS可以解决制造商面临的困难的测量问题，制造商必须在许多不同的测试条件下同时在一个设备上测试多个设备或多个通道。在一个典型的应用中，十几个或更多的设备被加载到一个测试夹具中，并且在每个设备上的数千个源测量测试点收集电气数据。在这些应用中使用多个机架和堆栈仪器是非常昂贵的，并且由于通过GPIB进行数据通信而减慢了数据收集。

与其他模块化测试系统不同，Model 4500-MTS针对低噪声，大电流源进行了优化，同时为敏感测量保持良好的控制环境。它有助于在不影响质量目标或生产吞吐量的情况下降低制造成本。

控制工程日报新闻台
吉姆·蒙塔古，新闻编辑
jmontague@reedbusiness.com

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