用于包装涂层产品的红外传感器

霍尼韦尔的反射红外光谱仪采用专有的阵列探测器技术,旨在帮助减少缺陷和原材料使用量。

2010年11月11日

霍尼韦尔(Honeywell)推出了新的红外传感技术,旨在帮助包装制造商显著减少其涂层产品中的缺陷,并减少用于生产这些产品的原材料数量。反射红外光谱仪(RIS)采用专有的阵列探测器技术,提供业界最高的分辨率和最宽的红外光谱范围,这使得工厂能够通过测量涂料的多种成分来实现无与伦比的质量,即使是在反射或印刷基材上。

RIS可用于质量控制系统,如霍尼韦尔的MXProLine,该系统使用一系列扫描仪和传感器来监控涂层产品(如液体和无菌包装)的质量。整个解决方案可以帮助生产商更准确地测量和控制多层或屏障涂层和粘合剂层,区分光谱特征非常相似的成分,测量印刷和反射衬底,并量化添加剂和填料(如Ti0)的变化2和CaC03.

P3和CWS的全球业务负责人Jack Ross说:“像大多数制造商一样,包装制造商不仅面临着日益复杂的产品要求,而且还要求降低生产成本和提高生产率。”反射红外光谱仪使这些制造商更接近这一目标,并代表了该行业向日益复杂的数字信号处理技术的转变,该技术提高了精度、分辨率和灵活性。”

RIS的具体功能包括用户友好的在线图形校准工具,这比基于光谱仪的传感器采用的离线校准方法节省了大量时间。当测量复杂或多层产品时,操作员可以选择基本的比率校准或高级化学计量校准。此外,RIS具有优化光束聚焦的内部光学元件,自动标准化,校正源光谱或探测器响应中的任何漂移,以及高分辨率和精确空间对准的快速响应。

霍尼韦尔国际

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-由Amanda McLeman编辑,控制工程,CFE媒体,www.globalelove.com