平板测量系统结合视角、空间均匀性分析

辐射成像公司的平板测量系统声称是第一个能够提供均匀性测量的设备,作为视角的函数,显示尺寸高达1.7米x 1米。

控制工程人员 二四年十一月十八日
平板测量系统结合了视角和空间均匀性分析。

辐射成像公司平板测量系统。声称是第一个能够提供均匀性测量的设备,作为视角的功能,显示器的尺寸高达1.7米x 1米。根据制造商的说法,这一功能对于几乎所有终端市场的平板显示器的研发测量至关重要。

PM-FPMS结合了成像光度计和角度运动系统,并结合了公司的ProMetric 8软件。该系统可以产生定性显示图像,以及各种各样的定量绘图,包括等值线图,CIE颜色分析和雷达绘图,适用于任何采样区域大小和视角。测量准确地消除了视角对相机的影响。系统甚至可以进行mura缺陷检测。

该设备主要针对LCD, PDP, OLED和LED显示器以及LED, CCFL和基于灯的背光的开发商。它包括一个完全集成的运动控制系统来进行速度测试。

——jeanine Katzel,《控制工程》高级编辑,jkatzel@reedbusiness.com