FEI公司为纳米技术研发提供电子显微镜，发布新软件

FEI公司已经开始出货其最近推出的扫描/透射电子显微镜(S/TEM)， Titan 80-300。该仪器被称为世界上最高分辨率的商用显微镜，具有专门用于校正和单色技术的新平台以及强大的亚埃(原子尺度)成像和分析。据报道，它将显微镜技术提升到一个新的水平，使功能材料的结构-性能关系的新发现成为可能。

FEI主席兼首席执行官Vahe Sarkissian说:“泰坦是纳米技术时代的重大突破。”“这个新系统是FEI超高S/TEM分辨率和聚焦离子束(FIB)技术舰队中最强大的成员，为需要更多纳米级访问的研究人员、开发人员和制造商提供了有利的工具。”

目前，大多数超高分辨率显微镜的分辨率在一到两埃之间。然而，在1埃以下，材料表现出不同的性质和行为。土卫六的亚埃成像大大增强了观察和表征材料的能力。

FEI还宣布为其Tecnai G2透射电子显微镜发布新的软件和硬件。Tecnai 3.0软件增强操作便利性;硬件采用Inspect3D Xpress计算机技术，用于高速三维图像重建。该系统据说是市场上唯一的全数字透射电子显微镜。

——jeanine Katzel，《控制工程》高级编辑，jkatzel@reedbusiness.com

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