自动化测试系统采用模块化仪器和系统设计

美国国家仪器公司(Nasdaq: NATI) NI半导体测试系统(STS)系列是一款基于PXI的自动化测试系统，旨在通过在半导体生产测试环境中开放NI和PXI模块，降低射频和混合信号设备的测试成本。STS的主要用户可以使用相同的硬件和软件工具进行表征和生产，从而减少了数据相关时间和上市时间。

STS的开放式模块化架构使工程师能够访问PXI仪器，这对于射频和混合信号测试非常有用。由TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件提供支持，STS具有各种半导体生产环境的功能，包括可定制的操作员界面，处理器/探针集成，以设备为中心的编程，引脚通道映射，标准测试数据格式报告和集成的多站点支持。有了这些功能，工程师可以快速开发、调试和部署测试程序，缩短整体上市时间。此外，STS具有全封闭的“零足迹”测试头，标准接口和对接机制，可以集成到半导体生产测试单元中。

STS系列包括三种不同的型号，分别为T1, T2和T4，分别容纳一个，两个和四个PXI底盘。这些不同的尺寸，以及所有STS型号的通用软件、仪器和互连机制，使工程师能够针对广泛的引脚数和位置数要求进行优化。此外，STS的可扩展性使得从表征到生产的部署变得可行，不仅可以优化成本，还可以大大简化数据关联，从而进一步缩短上市时间。

美国国家仪器公司

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